鼎阳科技发布新一代矢量网络分析仪SNA5000X-E，助力多行业测试
2025年4月18日，鼎阳科技正式推出全新SNA5000X-E系列矢量网络分析仪。该产品具备9 kHz至26.5 GHz的测量范围、117 dB动态范围及智能化操作体验，支持S参数测量，差分（平衡）测量，接收机测量，时域分析、TDR、带宽分析、阻抗转换、端口匹配、去嵌功能、频谱分析功能等，起价仅为39880元，为研发团队、教育实验室及生产线提供高性价比的测试工具，助力客户高效完成射频器件验证与常规高频测试任务。
宽频段高动态范围，满足精密器件测试需求
SNA5000X-E支持9 kHz~26.5 GHz连续频率扫描，其动态范围可达117 dB，结合0.05 dB幅度分辨率与1 Hz频率分辨率，能精准捕捉微弱信号，满足高Q值滤波器等精密器件的严苛测试需求。
多维度功能集成，应对多元行业挑战
SNA5000X-E矢量网络分析仪通过集成多项实用功能，帮助用户高效应对不同行业的测试挑战。
便捷地消除夹具效应
在微波射频测试中，夹具引入的误差往往会影响测量精度。SNA5000X-E可通过多项功能系统性解决夹具误差难题：
端口延伸：当被测器件距离较远或需通过线缆连接时，输入线缆参数（如长度、损耗），即可将测量参考点延伸至目标位置，自动补偿线缆带来的延迟与损耗误差。
去嵌入功能：通过导入夹具的电气模型（S参数），从测量结果中反向剥离夹具的插损、反射等影响，直接呈现被测器件的真实性能。
阻抗转换与匹配：支持端口阻抗灵活调整，适配不同接口标准的夹具，进一步减少阻抗失配带来的干扰
时域分析功能
随着数字系统信号处理速度的提升，在时域和频域内快速、精确地测量和分析互连器件性能，已成为保障系统性能的关键
SNA5000X-E具备时域分析功能（TDA），能对器件的时域特性进行分析。时域反射计（TDR）功能可进行故障点定位，还可以方便地消除部分特定类型的失配对频域测量的影响，得到排除故障后的预期频域特性，便于分析故障对器件特性的影响。
TDA功能
TDR功能
SNA5000X-E还搭载了眼图功能，为需要对高速信号进行时域分析、高速信号完整性分析的客户节省了大量成本和时间。
智能化操作，让效率与精度并存
SNA5000X-E系列具备12.1英寸触摸屏，支持多窗口显示，工程师可同时观察多个S参数，数据对比一目了然。同时，SNA5000X-E也支持包括群时延、史密斯图等多种数据显示格式，支持高频测量与滤波器特性一键分析，快速获取插入损耗、带宽等关键指标，还支持公式输入功能，让每一次测试都更便捷。
此外，其远程控制接口（SCPI指令、WebServer）深度适配自动化产线需求。用户在远程实现参数配置、数据采集与报告生成的全程自动化，显著提升产能一致性。
SNA5000X-E具备优秀的测试测量性能，并具有优秀的智能化操作，是一款高效、可靠的矢量网络分析仪，可为工程师、研发团队及生产线提供从研发验证到批量质检的一站式解决方案。
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助力半导体等精密测试！鼎阳科技发布精密源表SMM3000X系列
2025年2月18日，鼎阳科技推出 全新一代精密源表SMM3000X系列，此系列产品具备6½显示位数，高达±210V直流电压、±3.03A直流电流、±10.5A脉冲电流输出，最小10 fA/100 nV编程及测量分辨率，最大采集速率100,000 points/s。支持四象限操作，能够同时采集和测量信号，实现对DUT的源-测量循环。既可作为恒压源、恒流源、电压表、电流表和欧姆表，还可以作为脉冲发生器、波形发生器，是测试半导体和其他非线性设备和材料的理想选择。
高精度脉冲模拟
脉冲模式下，SMM3000X系列支持±10.5A的脉冲电流输出，最小脉宽可达50μs，能够精准模拟功率器件的瞬态工况，如GaN（氮化镓）、SiC（碳化硅）器件的开关损耗测试等，为功率半导体器件的研发和测试提供了强有力的支持。
线性/对数扫描
SMM3000X系列支持线性/对数/脉冲扫描，可根据用户预设的起始点至终止点，以固定的步进值逐点输出电压或电流，同时自动测量并记录每个点的值。用户可以快速地验证二极管、晶体管等半导体器件在不同工作点下的特性，获取其导通特性曲线，对器件进行性能分析。
灵活自定义序列
列表模式支持用户自定义输出序列，最小间隔可达10μs，参数变化可以是线性的，也可以是非线性的，甚至是任意值或自定义顺序。SMM3000X按照列表中设定的值依次输出电压或电流，同时测量并记录数据，适用于不规则的电压/电流变化测试或多段测试等。
数据可视化分析
SMM3000X系列提供了Graph、Roll和Measure等多种视图模式。用户可以通过Graph视图对数学运算结果进行实时曲线绘制，通过Roll视图显示测试数据的时域波形，通过Measure视图获得迹线统计结果。多种视图模式提供了多维度的参数分析，用户可更直观地理解和分析测试数据。
高效程控
SMM3000X系列基于先进的SCPI命令集，支持通过USB、LAN接口与计算机通信，实现高效便捷的远程控制。用户既可通过网页轻松操控，也可结合SCPI命令进行深度自定义编程，满足多样化测试需求。此外，用户还可利用Socket通信技术，通过TCP/IP协议与SMM3000X进行网络交互，实现远程测试与控制。
鼎阳科技SMM3000X系列精密源表的推出，不仅满足了第三代半导体、先进光电器件等前沿领域的精密测试需求，还可大幅缩短了新能源电池、高密度集成电路等产品的研发周期，提升测试效率和测试精度，为产品的研发和创新提供强有力的支持。
鼎阳科技推出SDG3000X任意波形发生器，支持40Mpts存储深度与1.2GSa/s采样率
2025年2月18日，鼎阳科技推出新一代任意波形发生器SDG3000X系列，此系列产品具有16-bit垂直分辨率，最高200MHz输出频率，1.2GSa/s采样率，每通道最大存储深度40Mpts，并采用了创新的EasyPulse和TrueArb技术，显著降低波形抖动。
除此以外，SDG3000X内置任意波形大于196种，配备7英寸电容触摸屏，支持直观的操作设置，还具有序列波发生、噪声发生、谐波发生、IQ信号发生、PRBS码型发生和各种复杂信号生成的能力，支持多脉冲输出，助力功率器件双脉冲测试。SDG3000X是一款多功能波形生成设备，广泛应用于通信、半导体、新能源及科研教育等领域，为不同测试方案提供更多的选择。
高保真信号生成，精准复现每一细节
SDG3000X采用创新的EasyPulse和TrueArb技术，重新定义了信号生成的精度标准。TrueArb技术支持逐点输出任意波形，采样率覆盖10mSa/s~600MSa/s，在确保波形细节完整的同时，实现抖动低至150ps、总谐波失真低于0.075%的高保真信号输出。
高精度脉冲生成，灵活调节边沿脉宽
EasyPulse技术则专为脉冲信号优化，可生成最小脉宽8ns、占空比极小、上升/下降沿快速且不受频率影响的脉冲波形，支持边沿和脉宽大范围精细调节，SDG3000X是生成高精度脉冲信号的理想设备。
40Mpts/ch任意波长度，完美复现信号
SDG3000X内置196种任意波形，40Mpts/ch大容量波形存储器可完整存储并高精度复现复杂信号细节，结合灵活的序列播放功能，轻松设置各段波形循环次数及波形播放顺序，满足多样化的测试需求。
灵活信号生成，覆盖复杂测试需求
SDG3000X支持120Mbps PRBS码型输出，并可在250~50MSymb/s符号速率范围内生成优异EVM性能的基带或中频IQ信号，及多种调制功能（AM/DSB-SC/FM/PM/FSK/ASK/PSK/PWM）。结合Sweep和Burst功能，SDG3000X轻松应对从科研教育到功率器件测试的全场景挑战。
双脉冲测试方案，助力半导体测试
双脉冲测试是半导体功率器件动态特性分析的关键方法，用于评估开关损耗、导通特性等核心参数。结合通道跟踪与相位同步技术，SDG3000X支持精确控制脉冲宽度与间隔，适配IGBT、SiC MOSFET等器件的多场景测试需求。通过USB/LAN远程控制及示波器联动功能，SDG3000X助力用户快速构建自动化测试系统，提升测试效率与数据可靠性。
智能交互体验，操作更高效便捷
SDG3000X配备7英寸触摸屏，支持直观的参数设置与信号查看，简化操作过程，并支持MATLAB、Python脚本导入及示波器联动进行自动校准。内置硬件高精度频率计，配备LAN、USB、GPIB等多种通信接口及内建WebServer，SDG3000X实现多设备级联同步与远程控制，全面提升测试效率与操作便捷性。
频段拓展！SHA860A系列手持信号分析仪新型号发布！
2025年1月16日，深圳市鼎阳科技股份有限公司在SHA860A系列手持信号分析仪基础上新增了14/20/26.5 GHz新型号，该系列产品集频谱分析、矢量网络分析、线缆和天线测试三种模式为一体，低频可扩展至 5 kHz，标配全频段前置放大器，实时分析带宽高达110 MHz，拥有实时频谱分析、5G NR OTA测量、LTE FDD/TDD OTA测量等丰富的测量功能，具有体积小、 重量轻、 供电灵活、 操控方便等特点，可广泛应用于外场无线通信设备的安装调试、 维护保障及干扰排查等场合。
鼎阳科技发布光隔离探头、高压差分探头
随着半导体、新能源系统、材料特性研究等领域对高可靠性测试设备的需求日益增长，鼎阳科技推出了ODP6000B系列光隔离电压探头，以及SAP1000H、DPB6150系列和SDP6150系列高压差分探头。ODP6000B系列光隔离电压探头可为高压浮地信号、第三代半导体功率器件以及新能源逆变器等测试提供可靠的解决方案。而SAP1000H、DPB6150系列和SDP6150系列高压差分探头具有极佳的动态范围和共模噪声抑制能力，可广泛应用于开关电源﹑变频器和其它电气功率装置测试中。
ODP6000B系列光隔离电压探头
高带宽
光隔离探头带宽500MHz、1GHz，采用了先进的光纤传输技术，通过电-光-电的转换，实现了信号输入和输出的完全电气隔离，具有超高共模抑制比。极其适用于开关电源﹑电机驱动器、新能源逆变器、变频器的测试，尤其在第三代半导体如氮化镓（GaN）和碳化硅（SiC）等高频电路测试中，ODP6000B可以近乎完美地抑制其高频共模噪声，提供精确的测量结果。
高性能
与传统的探头相比，光隔离探头具有更高的共模抑制比和隔离电压。在测试低频直流信号时。共模抑制比高达160dB，即使在1GHz的高频信号测试中，也能保持70dB的共模抑制比，无论在低频段和高频段都能有效的抑制共模干扰。同时，光隔离探头提供了高达±60kV的隔离电压，能够在高压浮地信号测试中实现电气隔离，防止高压或危险电路对工程师和测试仪器造成危害。
宽范围
在测试高电压或高功率电路时，ODP6000B系列光隔离探头通过搭配不同的衰减器，能够在不牺牲信噪比的前提下，测试从毫伏到千伏的宽范围电压信号，具备出色的适应性，为宽禁带半导体电路测试提供高效的解决方案。
ODP6000B系列电气规格
DPB6150、SDP6150系列高压差分探头，最高带宽400 MHz，能测量高达1500 Vpk的电压。具备良好的共模噪声抑制能力，输入端的高输入阻抗和较低电容，可准确测量差分电压信号、浮地信号。此外还配备了一键调零、过载声光报警功能，确保操作的安全性和便捷性。可广泛用于开关电源﹑电子镇流器﹑变频家电和其它电气功率装置等的研发或检修工作中。
DPB6150系列高压差分探头
DPB6150系列高压差分探头
SDP6150系列高压差分探头
SDP6150系列高压差分探头
SDP6150系列电气规格
SAP1000H 高压差分探头
SAP1000H高压差分探头具有1GHz的高带宽，±42V的高动态范围，无论是测量微小信号还是大信号，都能游刃有余。同时，其低至1 pF的差分输入电容，可极大降低对被测电路的影响，小于350 ps的上升时间，能够精准捕捉信号上升沿的每个细微变化。此外SAP1000H可在紧凑的体积内实现衰减档位的快速切换，无论是进行开关电源的测量，还是高速数字电路的调试，SAP1000H都能高效完成测试任务。
SAP1000H高压差分探头
SAP1000H电气规格
八通道最新选择|鼎阳科技发布8通道1GHz带宽高分辨率示波器
2025年1月16日，鼎阳科技推出全新8通道1 GHz带宽高分辨率示波器SDS5000X HD和SDS5000L系列。其具有5 GSa/s的高采样率，2.5 Gpts的存储深度，是鼎阳科技八通道示波器的又一诚意之作，配备多种分析软件，为不同测试方案提供更新的选择。
上电时序分析
现代电子系统中包含不同的芯片、模块等，不同电路模块的信号在初始化和工作时可能相互影响，通过上电时序测试，可确保各模块信号以正确的时序出现，避免信号冲突、干扰，保证系统正常运行。如在通信系统中，收发模块的上电时序不当，可能造成数据传输错误。随着技术的发展，电路的复杂度不断提高，对上电时序测试也提出了新的挑战。SDS5000X HD可一次捕获所有相关信号的上电过程，节省测量时间，提高工作效率，减少因多次测量引入的误差，对有 8 个电源轨的复杂电路，可一次完成测量。
三相电分析
使用八通道示波器进行三相电分析，可以同时连接三相电的各相，对三相电压、电流信号进行同步测量，实时准确获取三相电各相的波形和参数，直接观察和比较三相电信号的相位关系，确保三相电的相位平衡。借助快速傅里叶变换（FFT）功能，多通道示波器可对三相电压、电流信号进行谐波分析。选配三相电分析，可以测试三相电机的向量图，电能质量，进行纹波分析和效率分析等。
完整的宽禁带半导体参数测试方案
鼎阳科技最新八通道示波器和光隔离探头的发布，补全了宽禁带半导体测试的最后一块拼图。SDS5000X HD的上升时间达到了ps级别，可以捕捉到碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）的快速变化的波形，分析开关过程中电压，电流的瞬态变化和开关特性。通过观察信号的形状、过冲、振铃等情况，分析信号的完整性，优化电路设计。
在众多前沿科技领域的探索与测试中，多通道示波器扮演着不可或缺的重要角色。随着SDS5000X HD和SDS5000L的发布，鼎阳科技八通道高分辨率示波器带宽覆盖了350MHz~2GHz，应用领域覆盖FPGA测试、半导体测试、电机电控测试和自动化测试等多种领域。
和SDS5000X HD/SDS5000L一起发布的，还有光隔离探头等多种配套探头和26.5GHz手持信号分析仪。鼎阳科技也将继续践行以研发为导向的企业战略，继续专注研发、聚焦创新，肩负起通用电子测试测量仪器领域领军企业的责任与使命。
鼎阳科技银河系列高端新品重磅发布！
2024年12月26日，鼎阳科技以“鼎阳，不止于示波器”为主题召开线上新品发布会。发布会发布了SSG6089A 67GHz模拟信号源、SSA6000A系列50GHz信号/频谱分析仪、SNA6000A系列50GHz矢量网络分析仪三款高端射频新品，为鼎阳科技产品版图再添新彩。
银河无垠，步履未停
鼎阳，不止于示波器！
鼎阳，不止于示波器丨12.26，相约银河系列高端新品发布会
矢量混频测量与增益压缩测量功能上线，鼎阳矢量网络分析仪性能再升级
为提升产品性能和优化用户体验，鼎阳科技持续推动技术创新与产品升级，致力于为用户提供最优质的测试方案。出色的射频性能、灵活的硬件配置和丰富的软件功能相辅相成。通过固件升级，SNA5000X/A系列矢量网络分析仪新增矢量混频测量和增益压缩测量功能，进一步增强其测试能力，帮助工程师更精准高效地测试和优化混频器、放大器等关键射频器件的性能。
矢量混频测量
传统的性能评估通常只关注混频器的端口驻波、隔离度及变频幅度特性等，矢量混频测量则能够同时获取相位和幅度信息。通过本振固定、输入和输出信号同步扫频，或输入信号固定、本振和输出信号同步扫频，获得经过校准的转换损耗/增益、匹配、群时延以及器件间的相移等结果。
矢量混频测量功能支持线性扫描、功率扫描、段扫描等多种扫描方式，且允许灵活设置源端口功率、本振端口功率及衰减等参数。四端口型号内置双信号源，可将第二信号源用作本振或通过控制外部信号发生器提供本振信号。直观的用户界面可轻松完成测量配置，通过校准向导引导用户完成校准过程，提供全面、精准的混频器/变频器特性测量。
增益压缩测量
表征有源器件特性，确定其压缩点是必不可少的。使用矢量网络分析仪的传统S参数测量只能得到单一频点的压缩点数据，而增益压缩测量功能通过一次连接、一次校准完成有源器件在工作频带内的线性增益、压缩点增益、压缩点输入/输出功率、线性输入匹配等压缩参数和线性参数测量。
增益压缩测量功能通过功率校准和校准向导确保测量精度，支持多种扫描方法，包括智能扫描、每个频率点的功率扫描和每个功率点的频率扫描以适应不同的测试场景、同时提供线性压缩、最大增益压缩、回退压缩、X/Y压缩、饱和态压缩等多种压缩方法，灵活应对复杂的测试需求，确保全面、准确地表征器件的非线性行为。
